Разработка и внедрение решений
для автоматизации инженерных расчетов

+7(495) 761-2487

  • Главная
  • /
  • Применение
  • /
  • Оптимизация многослойного антиотражающего покрытия оптических элементов

Оптимизация многослойного антиотражающего покрытия оптических элементов

Отрасль

Оптическая промышленность / Космические технологии / Прецизионная оптика

Проект реализован с применением многокритериальной оптимизационной платформы IOSO NM (Sigma Technology) в связке с внутренним расчётным кодом оптической физики для разработки антиотражающих покрытий оптических элементов спутниковых и наземных систем.

Технический кейс: Оптимизация многослойного оптического покрытия / MULTILAYER OPTICAL COATING OPTIMIZATION


Задача

Цель проекта — минимизировать коэффициент отражения оптической поверхности в заданном диапазоне длин волн путём оптимального подбора параметров многослойного покрытия. Одновременно требовалось минимизировать поглощение в покрытии. Задача являлась двухкритериальной: конкурирующие цели — минимизация отражения и минимизация поглощения — требовали нахождения оптимального компромисса.


Исходные ограничения и сложности

Высокая размерность пространства параметров. Задача включала до 40 переменных: порядок следования слоёв, их количество и индивидуальные толщины. Полный перебор комбинаций при столь большом числе переменных принципиально невозможен.

Сложность физической модели. Расчётная модель базировалась на внутреннем (in-house) математическом коде оптической физики, не допускающем прямой аналитической оптимизации. Оптимизатор должен был работать с ним как с «чёрным ящиком».

Широкий целевой спектр. Диапазон длин волн охватывал видимый и ближний ИК-спектр — от 400 до 1000 нм. Исходные (неоптимизированные) параметры покрытия давали крайне нестабильный коэффициент отражения с многочисленными пиками по всему диапазону, достигающими значений до 0,9.

Взаимозависимость слоёв. Изменение толщины или состава одного слоя влияет на интерференционные характеристики всего стека, что делает задачу сильно взаимосвязанной и исключает последовательную оптимизацию отдельных слоёв.


Подход и решение

IOSO NM управлял автоматическими вызовами внутреннего расчётного кода, последовательно варьируя толщины и состав слоёв покрытия. Многокритериальная постановка позволила исследовать компромисс между минимальным отражением и минимальным поглощением в целевом диапазоне длин волн без необходимости ручного перебора комбинаций.

Прямая интеграция IOSO NM с внутренним расчётным кодом не потребовала адаптации или замены коммерческого программного обеспечения — оптимизатор работал с существующим инструментом через стандартный файловый обмен.


Результаты

В целевом диапазоне длин волн 400–1000 нм коэффициент отражения снизился практически до нуля — вместо хаотичного нестабильного профиля с пиками до 0,9 оптимизированное покрытие обеспечивает стабильно низкое отражение по всему заданному спектру. Были определены оптимальные значения толщин всех слоёв многослойного покрытия, обеспечивающие заданные оптические характеристики.


Ценность для заказчика

Резкое повышение пропускания оптических элементов. Снижение коэффициента отражения практически до нуля критично для космических телескопов, солнечных панелей и прецизионных оптических приборов — где каждый процент потерь на отражение напрямую влияет на характеристики системы.

Решение задачи, недостижимой традиционными методами. Высокая размерность пространства параметров (до 40 переменных) исключает возможность аналитической или ручной оптимизации — IOSO NM обеспечивает глобальный поиск в пространстве, недоступном для классических подходов.

Бесшовная интеграция с существующим инструментарием. Прямое подключение оптимизатора к внутреннему расчётному коду не требует замены или адаптации проверенного физического кода, что существенно снижает стоимость внедрения.

 

Заполните форму
Мы с вами свяжемся в ближайшее время
После заявки вам перезвонит специалист
Ответит на вопросы:

которые у Вас возникли

Проконсультирует:

По продукции нашей компании

Вход/регистрация

Разработка и внедрение решений
для автоматизации инженерных расчетов
г. Москва,
ул. Электрозаводская, 20.

+7(495) 761-2487

company@iosotech.com